近日，bat365中文官方网站郭文忠教授和刘耿耿副教授课题组最新研究成果被集成电路领域国际顶级学术会议ACM/IEEE Design Automation Conference (DAC, CCF A类) 正式录用。

论文录用信息如下：

Genggeng Liu, Yuhan Zhu, Wenzhong Guo, et al. “Fault-Tolerance-Oriented Physical Design for Fully Programmable Valve Array Biochips”, Accepted by ACM/IEEE Design Automation Conference, 2023.

该研究成果由bat365中文官方网站刘耿耿副教授、博士生朱予涵、郭文忠教授等合作完成。作为新一代流式微流控生物芯片，完全可编程阀门阵列（Fully Programmable Valve Array, FPVA）生物芯片具有更高的灵活性和可编程性，已经成为一种流行的生化实验平台。然而，由于环境和人为因素，在芯片制造过程中通常会存在一些物理故障，如通道堵塞和泄漏，这无疑会影响生物测定的结果，甚至导致测定执行失败。因此，该论文首次关注FPVA生物芯片的容错设计问题，并提出了三种动态容错技术，包括单元功能转换方法、双向冗余方案和故障映射方法。通过将这些技术整合到组件布局和通道布线阶段，该论文进一步提出了一种容错导向的FPVA生物芯片物理设计方法，从而确保了芯片架构的稳健性和测定结果的正确性。在多个基准上的实验结果证明，所提出的方法可以实现具有高执行效率和低制造成本的容错FPVA架构。

ACM/IEEE DAC（CCF A类）会议是集成电路芯片设计与辅助工具研究领域的国际顶级会议，迄今已有60年的历史。大会为全球电路设计师、工具研发领域的科研人员和供应商提供教育、展览与最新发展动态信息，备受集成电路设计和电子设计自动化领域学者的重视。DAC 2023将于7月9日-13日在美国加利福尼亚州旧金山马士孔尼会展中举办。